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Characterization of phosphosilicate thin films using confocal Raman microscopy

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Matthews, Manyalibo J.; Harris, Alexander L.; Bruce, Allan J.; Cardillo, Mark Pág. 2117 - 2120

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 71 Num: 5 Par: 0 Año: 2000

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