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Reindl, L; Ruppel, C C W; Berek, S; Knauer, U; Vossiek, M; Heide, P; Or     Pág. 787 - 794

 
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Springer, A; Hollerweger, F; Weigel, R; Berek, S; Thomas, R; Ruile, W; Rup     Pág. 2312 - 2316

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