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Gans, M. J. Amitay, N. Yeh, Y. S. Xu, H. Damen, T. C. Valenzuela, R. A. Sizer, T. Storz, R. Taylor, D. MacDonald, W. M.     Pág. 570 - 583
Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS    Formato: Impreso

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