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Investigation and Modeling of Impact Ionization with Regard to the RF and Noise Behavior of HFET

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Reuter, R; Agethen, M; Auer, U; Waasen, S van; Peters, D; Brockerhoff, W; Pág. 977 - 983

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 45 Num: 6 Par: 0 Año: 1997

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