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GaN-Based RF Power Devices and Amplifiers

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Mishra, U.K.; Shen Likun; Kazior, T.E.; Yi-Feng Wu Pág. 287 - 305

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 96 Num: 2 Par: 0 Año: 2008

Trapping Effects in GaN and SiC Microwave FETs

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Binari, S. C. Klein, P. B. Kazior, T. E. Pág. 1048 - 1058

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 90 Num: 6 Par: 0 Año: 2002

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