2   Artículos

 
usuarios registrados
Q. Li, L. Wang-Li, S. B. Shah, R. K. M. Jayanty, P. Bloomfield     Pág. 2299 - 2310
Revista: TRANSACTIONS OF THE ASABE    Formato: Impreso

 
usuarios registrados
Bishop, P; Bloomfield, R     Pág. 550 - 559
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

« Anterior     Página: 1 de 1     Siguiente »