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Baudry, B.; Fleurey, F.; Jezequel, J.-M.; Le Traon, Y.     Pág. 76 - 82
Revista: IEEE SOFTWARE    Formato: Impreso

 
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Traon, Y Le; Jéron, T; Jézéquel, J-M; Morel, P     Pág. 12 - 25
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

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