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On the Deembedding Issue of CMOS Multigigahertz Measurements

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Issaoun, A.; Yong Zhong Xiong; Jinglin Shi; Brinkhoff, J.; Fujiang Lin Pág. 1813 - 1823

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 55 Num: 9 Par: 0 Año: 2007

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