AVANZADA

1 Artículos

Experimental determination of residual stress in silicon nitride diffusion bonds obtained by high-energy X-ray diffraction

Solicitud

usuarios registrados

M. Vila, M.L. Martínez, C. Prieto, P. Miranzo, M.I. Osendi, A. Terry and G. Vaughan Pág. 60 - 63

Revista: POWDER TECHNOLOGY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 148 Num: 1 Par: 0 Año: 2004

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »