2 Artículos

Development of a synchrotron biaxial tensile device for in situ characterization of thin films mechanical response

Solicitud

usuarios registrados

G. Geandier, D. Thiaudière, R. N. Randriamazaoro, R. Chiron, S. Djaziri, B. Lamongie, Y. Diot, E. Le Bourhis, P. O. Renault, P. Goudeau, A. Bouaffad, O. Castelnau, D. Faurie, and F. Hild

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 10 Par: 0 Año: 2010

A new experimental setup for the time resolved x-ray diffraction study of self-propagating high-temperature synthesis

Solicitud

usuarios registrados

Vrel, D. Girodon-Boulandet, N. Paris, S. Mazue, J. F. Couqueberg, E. Gailhanou, M. Thiaudiere, D. Gaffet, E. Bernard, F. Pág. 422 - 428

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 2 Par: 1 Año: 2002

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »