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Reflection-time-of-flight spectrometer for two-electron (e,2e) coincidence spectroscopy on surfaces

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J. Kirschner, G. Kerhervé, and C. Winkler

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 7 Par: 0 Año: 2008

SCALABILITY OF WEB-BASED ELECTRONIC COMMERCE SYSTEMS

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Bochmann, G. V. Wong, J. W. Evans, D. Lau, T. C. Bourne, D. Kerherve, B. Salem, M.-V. M. Ye, H. Pág. 110 - 115

Revista: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 41 Num: 7 Par: 0 Año: 2003

A New Family of All-Inductive Dual-Mode Filters

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Guglielmi, M; Jarry, P; Kerherve, E; Roquebrun, O; Schmitt, D Pág. 1764 - 1769

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 49 Num: 10(1) Par: 0 Año: 2001

Design of Broad-Band Matching Network With Lossy Junctions Using the Real-Frequency Technique

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Kerherve, E; Jarry, P; Martin, P-M Pág. 242 - 249

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 3 Par: 0 Año: 1998

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