3   Artículos

 
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Makhoul, J; Kubala, F; Leek, T; Liu, D; Nguyen, L; Schwartz, R; Srivastava     Pág. 1338 - 1353
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Bazzi, I; Schwartz, R; Makhoul, J     Pág. 495 - 504

 
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Guyon, I; Makhoul, J; Schwartz, R; Vapnik, V     Pág. 52 - 64

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