AVANZADA

1 Artículos

In situ four-point conductivity and Hall effect apparatus for vacuum and controlled atmosphere measurements of thin film materials

Solicitud

usuarios registrados

Moulzolf, S. C. Frankel, D. J. Lad, R. J. Pág. 2325 - 2330

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 6 Par: 0 Año: 2002

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »