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Mitra, Sinjini; Savvides, Marios; Brockwell, Anthony

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Monro, Donald M.; Rakshit, Soumyadip; Zhang, Dexin

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 29 Num: 9 Par: 0 Año: 2007

Statistical Performance Evaluation of Biometric Authentication Systems Using Random Effects Models

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Sinjini Mitra; Marios Savvides; Anthony Brockwell Pág. 517 - 530

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 29 Num: 4 Par: 0 Año: 2007

Correction to "Statistical Performance Evaluation of Biometric Authentication Systems Using Random Effects Models" [Apr 07 517-530]

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Mitra, Sinjini; Savvides, Marios; Brockwell, Anthony

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 29 Num: 9 Par: 0 Año: 2007

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