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Scanning thermal microwave resonance microscopy of Ni nanodots

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Meckenstock, R. Spoddig, D. Dietzel, D. Pelzl, J. Bucher, J. P. Pág. 788 - 790

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 1 Par: 2 Año: 2003

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