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Multicomponent wavefield characterization with a novel scanning laser interferometer

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Thomas E. Blum, Kasper van Wijk, Bruno Pouet, and Alexis Wartelle

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 7 Par: 0 Año: 2010

Bridging the Gaps

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van Wijk, J.J. Pág. 6 - 9

Revista: IEEE COMPUTER GRAPHICS AND APPLICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 26 Num: 6 Par: 0 Año: 2006

Compression in mammoth silos: The influence of compression on large-scale homogenization;

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Dingena L. Schott, L. Arjen van Wijk and Wim J. Vlasblom Pág. Pages 92-9

Revista: POWDER TECHNOLOGY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 142 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2004

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