6 Artículos

Field-Failure and Warranty Prediction Based on Auxiliary Use-Rate Information

Solicitud

usuarios registrados

Yili Hong, William Q. Meeker Pág. 148 - 159

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 2 Par: 0 Año: 2010

Using Accelerated Life Tests Results to Predict Product Field Reliability

Solicitud

usuarios registrados

William Q. Meeker, Luis A. Escobar, Yili Hong Pág. 146 - 161

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 2 Par: 0 Año: 2009

Avoiding Problems With Normal Approximation Confidence Intervals for Probabilities

Solicitud

usuarios registrados

Hong, Yili; Meeker, William Q.; Escobar, Luis A. Pág. 64 - 68

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 1 Par: 0 Año: 2008

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »