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Large scan area high-speed atomic force microscopy using a resonant scanner

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B. Zhao, J. P. Howard-Knight, A. D. L. Humphris, L. Kailas, E. C. Ratcliffe, S. J. Foster, and J. K. Hobbs

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 9 Par: 0 Año: 2009

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