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Measurement of thermal conductivity of thin films with a Si-N membrane-based microcalorimeter

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B. L. Zink, B. Revaz, J. J. Cherry, and F. Hellman Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 2 Par: 0 Año: 2005

Numerical simulation of the heat transfer in amorphous silicon nitride membrane-based microcalorimeters

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Revaz, B. Zink, B. L. O Neil, D. Hull, L. Hellman, F. Pág. 4389 - 4403

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 10 Par: 0 Año: 2003

Thin film microcalorimeter for heat capacity measurements in high magnetic fields

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Zink, B. L. Revaz, B. Sappey, R. Hellman, F. Pág. 1841 - 1844

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 4 Par: 0 Año: 2002

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