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Optical properties of TiO~2 thin films estimated by photothermal deflection spectroscopy

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Ogawa, S. Mori, K. Natsuhara, H. Ohashi, T. Sakakiyama, R. Itoh, T. Yoshida, N. Nonomura, S. Fukawa, M. Sato, K. Pág. 862 - 864

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 1 Par: 2 Año: 2003

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