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A simple atomic force microscopy calibration method for direct measurement of surface energy on nanostructured surfaces covered with molecularly thin liquid films

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Ralf Brunner, Izhak Etsion, and Frank E. Talke

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 5 Par: 0 Año: 2009

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