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Millimeter-Wave Measurement of Complex Permittivity Using Dielectric Rod Resonator Excited by NRD-Guide
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Nakayama, A. Fukuura, A. Nishimura, M.
Pág. 170 - 177
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 51 Num: 1 Par: 1 Año: 2003
Conductivity Measurements at the Interface Between the Sintered Conductor and Dielectric Substrate at Microwave Frequencies
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Nakayama, A. Terashi, Y. Uchimura, H. Fukuura, A.
Pág. 1665 - 1674
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 50 Num: 7 Par: 0 Año: 2002
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