6   Artículos

 
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Dirk Aeyels; Patrick De Leenheer     Pág. 563 - 582
Revista: SIAM JOURNAL ON CONTROL AND OPTIMIZATION    Formato: Impreso

 
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Joan Peuteman; Dirk Aeyels; Rodolphe Sepulchre     Pág. 1408 - 1422
Revista: SIAM JOURNAL ON CONTROL AND OPTIMIZATION    Formato: Impreso

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