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Fahrig, R.; Ganguly, A.; Lillaney, P.; Bracken, J.; Rowlands, J.A.; Zhifei Wen; Huanzhou Yu; Rieke, V.; Santos, J.M.; Pauly, K.B.; Sze, D.Y.; Frisoli, J.K.; Daniel, B.L.; Pelc, N.J.     Pág. 468 - 480
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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