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Setup for optimized grazing incidence x-ray absorption experiments on thin films on substrates
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C. Maurizio, M. Rovezzi, F. Bardelli, H. G. Pais, and F. D¿Acapito
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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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Vol: 80 Num: 6 Par: 0 Año: 2009
A new procedure for the quantitative analysis of extended x-ray absorption fine structure data in total reflection geometry
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F. Benzi, I. Davoli, M. Rovezzi, and F. d'Acapito
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 79 Num: 10 Par: 0 Año: 2008
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