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An apparatus for simultaneous measurement of electrical conductivity and thermopower of thin films in the temperature range of 300¿750 K
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J. Ravichandran, J. T. Kardel, M. L. Scullin, J.-H. Bahk, H. Heijmerikx, J. E. Bowers, and A. Majumdar
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 82 Num: 1 Par: 0 Año: 2011
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