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Device Scaling Limits of Si MOSFETs and Their Application Dependencies (Invited Paper)

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Frank, D J; Dennard, R H; Nowak, E; Solomon, P M; Taur, Y; Wong, H-S P Pág. 259 - 288

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 89 Num: 3 Par: 0 Año: 2001

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