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Qian, X.-M. Zhang, T. Chang, C. Wang, P. Ng, C. Y. Chiu, Y.-H. Levandier, D. J. Miller, J. S. Dressler, R. A. Baer, T.     Pág. 4096 - 4109
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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