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Spyros Brezas, Markos Katsipis, Yannis Orphanos, Evaggelos Kaselouris, Kostas Kechrakos, Nikos Kefaloyannis, Helen Papadaki, Antonis Sarantis-Karamesinis, Stylianos Petrakis, Ioannis Theodorakis, Efstratios Iliadis, Tilemachos Karagkounidis, Ioannis Koumantos, Michael Tatarakis, Makis Bakarezos, Nektarios A. Papadogiannis and Vasilis Dimitriou    
Revista: Applied Sciences    Formato: Electrónico

 
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Stylianos Petrakis, Alexandros Skoulakis, Yannis Orphanos, Anastasios Grigoriadis, Georgia Andrianaki, Dimitrios Louloudakis, Nathanail Kortsalioudakis, Athanasios Tsapras, Costas Balas, Dimitrios Zouridis, Efthymios Pachos, Makis Bakarezos, Vasilios Dimitriou, Michael Tatarakis, Emmanouil P. Benis and Nektarios A. Papadogiannis    
The rapid growth of nanotechnology has increased the need for fast nanoscale imaging. X-ray free electron laser (XFEL) facilities currently provide such coherent sources of directional and high-brilliance X-ray radiation. These facilities require large f... ver más
Revista: Applied Sciences    Formato: Electrónico

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