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Y.Liu, J. R. Beene, C. C. Havener, C. R. Vane, Ch. Geppert, T. Gottwald, T. Kessler, K. Wies, and K. Wendt     Pág. 02A505
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Y. Liu, C. Baktash, J. R. Beene, Ch. Geppert, T. Gottwald, C. C. Havener, T. Kessler, H. F. Krause, D. R. Schultz, D. W. Stracener, C. R. Vane, K. Wies, and K. Wendt    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Mann, I. McLaughlin, S. Henkel, W. Kirkby, R. Kessler, T.     Pág. 901 - 912
Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS    Formato: Impreso

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