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Quantitative Measurement of Channel Temperature of GaAs Devices for Reliable Life-time Prediction

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Mittereder, J. A. Roussos, J. A. Anderson, W. T. Ioannou, D. E. Pág. 482 - 485

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 4 Par: 0 Año: 2002

SYSTEM RELIABILITY -- MEASURES, PREDICTION, OPTIMIZATION, ESTIMATION - Reliability life-testing & failure-analysis of GaAs monolithic Ku-band driver amplifiers

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Mittereder, J; Roussos, J; Christianson, K; Anderson, W Pág. 119 - 125

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 2 Par: 0 Año: 1998

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