2   Artículos

 
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Khoshgoftaar, T M; Allen, E B; Jones, W D; Hudepohl, J P     Pág. 4 - 11
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

 
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Moussessian, A; Wanke, M C; Li, Y; Chiao, J-C; Allen, S J; Crowe, T W; Rut     Pág. 1976 - 1981

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