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A high-resolution synchrotron-radiation angle-resolved photoemission spectrometer with in situ oxide thin film growth capability

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Horiba, K. Ohguchi, H. Kumigashira, H. Oshima, M. Ono, K. Nakagawa, N. Lippmaa, M. Kawasaki, M. Koinuma, H. Pág. 3406 - 3412

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 7 Par: 0 Año: 2003

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