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Loss budget of a setup for measuring mechanical dissipations of silicon wafers between 300 and 4 K

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J. P. Zendri, M. Bignotto, M. Bonaldi, M. Cerdonio, L. Conti, L. Ferrario, N. Liguori, A. Maraner, E. Serra, and L. Taffarello

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 3 Par: 0 Año: 2008

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