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Confidence Intervals Based on Rounded Data from the Balanced One-Way Normal Random Effects Model
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Lee, C.-S. Vardeman, S. B.
Pág. 835 - 856
Revista:
COMMUNICATIONS IN STATISTICS. SIMULATION AND COMPUTATION
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Vol: 32 Num: 3 Par: 0 Año: 2003
Interval Estimation of a Normal Process Standard Deviation from Rounded Data
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Lee, C.-S. Vardeman, S. B.
Pág. 13 - 34
Revista:
COMMUNICATIONS IN STATISTICS. SIMULATION AND COMPUTATION
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Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 31 Num: 1 Par: 0 Año: 2002
TOOLS & TECHNIQUES - Development programs for 1-shot systems: Decoupled tests & redesign, with potential design-degradation
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Moon, M; Vardeman, S; McBeth, D
Pág. 189 - 198
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
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Vol: 48 Num: 2 Par: 0 Año: 1999
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