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Metrological large range scanning probe microscope
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Dai, G. Pohlenz, F. Danzebrink, H.-U. Xu, M. Hasche, K. Wilkening, G.
Pág. 962 - 969
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 75 Num: 4 Par: 0 Año: 2004
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