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A controlled deterioration test for Arabidopsis thaliana reveals genetic variation in seed quality

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Tesnier, K. Strookman-Donkers, H. M. van Pijlen, J. G. van der Geest, A. H. M. Bino, R. J. Groot, S. P. C. Pág. 149 - 166

Revista: SEED SCIENCE AND TECHNOLOGY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 30 Num: 1 Par: 0 Año: 2002

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