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Allen, G.; Davis, K.; Goodale, T.; Hutanu, A.; Kaiser, H.; Kielmann, T.; Merzky, A.; van Nieuwpoort, R.; Reinefeld, A.; Schintke, F.; Schott, T.; Seidel, E.; Ullmer, B.     Pág. 534 - 550
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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