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Reliability and Cost Evaluation of Third-Generation Wireless Access Network Topologies: A Case Study

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Houeto, F. Pierre, S. Beaubrun, R. Lemieux, Y. Pág. 229 - 239

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 2 Par: 0 Año: 2002

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