AVANZADA

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A metrological large range atomic force microscope with improved performance

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Gaoliang Dai, Helmut Wolff, Frank Pohlenz, and Hans-Ulrich Danzebrink

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 4 Par: 0 Año: 2009

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