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40-GHz/150-ns Versatile Pulsed Measurement System for Microwave Transistor Isothermal Characterization

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Teyssier, J-P; Bouysse, P; Ouarch, Z; Barataud, D; Peyretaillade, T; Qu Pág. 2043 - 2052

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 12 (1) Par: 0 Año: 1998

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