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Sample refinement and manipulation of silicon nanowires: A step towards single wire characterization
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He, J. Z. Xu, J. B. Xie, Z. Chiah, M. F. Ke, N. Cheung, W. Y. Wilson, I. H. Ma, X. L. Tang, Y. H. Wang, N.
Pág. 177 - 182
Revista:
MATERIALS CHARACTERIZATION
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 48 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2002
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