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Time-resolved reflection surface x-ray diffraction

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Hong, H. Wu, Z. Chiang, T.-C. Zschack, P. Chen, H. Pág. 1720 - 1723

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 4 Par: 0 Año: 2002

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