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Hughes, M.; Caruthers, S.; Trung Tran; Marsh, J.; Wallace, K.; Cyrus, T.; Partlow, K.; Scott, M.; Lijowski, M.; Neubauer, A.; Winter, P.; Hu, G.; Zhang Hyuing; McCarthy, J.; Maurizi, B.; Allen, J.; Caradine, C.; Neumann, R.; Arbeit, J.; Lanza, G.; Wi     Pág. 397 - 415
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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