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Resolution enhancement of scanning four-point-probe measurements on two-dimensional systems

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Hansen, T. M. Stokbro, K. Hansen, O. Hassenkam, T. Shiraki, I. Hasegawa, S. Boggild, P. Pág. 3701 - 3708

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 8 Par: 0 Año: 2003

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