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Using Static Analysis to Find Bugs

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Ayewah, N.; Hovemeyer, D.; Morgenthaler, J.D.; Penix, J.; Pugh, W Pág. 22 - 29

Revista: IEEE SOFTWARE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 25 Num: 5 Par: 0 Año: 2008

Scattering From Lossy Dielectric Objects Buried Beneath Randomly Rough Ground Validating the Semi-Analytic Mode Matching Algorithm With 2-D FDFD

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Morgenthaler A. W. Rappaport C. M. Pág. 2421 - 2428

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON GEOSCIENCE AND REMOTE SENSING Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 39 Num: 11 Par: 0 Año: 2001

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