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An instrument for combining x-ray multiple diffraction and x-ray topographic imaging for examining crystal microcrystallography and perfection

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X. Lai, C. Y. Ma, K. J. Roberts, L. P. Cardoso, A. O. dos Santos, D. Bogg, and M. C. Miller

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 3 Par: 0 Año: 2009

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