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Add-on transmission attachments for the scanning electron microscope

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Khursheed, A. Karuppiah, N. Osterberg, M. Thong, J. T. L. Pág. 134 - 140

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 1 Par: 1 Año: 2003

Improvements to the design of an electrostatic toroidal backscattered electron spectrometer for the scanning electron microscope

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Rau, E. I.; Khursheed, A.; Gostev, A. V.; Osterberg, M. Pág. 227 - 229

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 1 Par: 0 Año: 2002

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