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H. J. van der Meiden, R. S. Al, C. J. Barth, A. J. H. Donné, R. Engeln, W. J. Goedheer, B. de Groot, A. W. Kleyn, W. R. Koppers, N. J. Lopes Cardozo, M. J. van de Pol, P. R. Prins, D. C. Schram, A. E. Shumack, P. H. M. Smeets et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Vankan, P. Heil, S. B. S. Mazouffre, S. Engeln, R. Schram, D. C. Dobele, H. F.     Pág. 996 - 999
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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