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In-plane strain measurements on a microscopic scale by coupling digital image correlation and an in situ SEM technique
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Fabienne Lagattu, Florent Bridier, Patrick Villechaise and Jean Brillaud
Pág. 10 - 18
Revista:
MATERIALS CHARACTERIZATION
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 56 Num: 1 Par: 0 Año: 2006
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